MICROTEST 6621 LCR 测试仪提供10Hz~30MHz 宽带率范围量测组件/ 材料阻抗特性，量测参数包含|Z|( 阻抗)、|Y|( 导纳)、θ( 相位角)、X( 电抗)、R( 串并联电阻)、G( 电导)、B( 电纳)、L( 电感)、D( 损耗因子)、Q( 品质因子)、DCR( 直流电阻) 、C( 电容)、ESR( 等效串联电阻) 。

支援REMOTE/Handler/LAN/USB Host/USB Device/GPIB/RS-232 通讯接口，可搭载自动化设备或人机接口(PLC)。

搭載元件測包機

6621 LCR 测试仪 ，一次最多可显示4 组参数，AC 与DC 可同时量测，同时，内建 BIN 分类与比较功能，可依生管/ 品保设定标准值上/ 下限范围，自动判定组件是否合格，快速归类至指定分类 区间，加速大量组件的品检与分级流程。

6621 紧凑型机身设计，2U高度整合于ATE更灵活

6621 LCR 测试仪采用紧凑型机身设计，具备2U高度，可轻松整合至自动化测试设备（ATE）机架系统中，大幅节省设备空间。

支持开路、短路、高频负载与定频负载校正

量测前需进行开路、短路、高频负载与定频负载校正，避免受到测试引线或量测电路造成偏差。

开路校正

量测电容组件之前先进行一次开路校正，消除引线与电路的影响。

短路校正

量测电感组件之前先进行一次短路校正，消除引线和等效串联电容的影响。

高频负载校正

在高频量测中，测试引线与量测电路中的电感/ 电容会影响量测结果，在量测前先进行高频负载校正，以提高量测的准确性。

定频负载校正

利用在特定频率下使用已知的标准电容/ 电感进行测量，根据与实际测量值的差异计算校正因子，排除在该频率下的误差，确保量测结果的可靠性。

6621 LCR Meter 量测范围

电阻值：GΩ - uΩ

电感值：MH - nH

电容值：KF - fF

输出阻抗提供25Ω/100Ω 同时支持自动电平控制(ALC)

采用自动平衡电桥量测技术，支持25Ω 与100Ω 两种输出输出阻抗模式，满足用户对于量测结果与其他仪器的匹配需求，此外，还支持自动电平控制(ALC) 功能，精准量测高容量1.0uF 以上的MLCC，开启ALC 下，自动纠正偏移的电平回到所设定的电压讯号值，精准量测高容量的MLCC。

支援AC 电平讯号增强功能

法规(JIS C 5101-1-1998) 对于测试讯号有订定规范，量测MLCC 电容值时，LCR 测试仪需打开自动电平控制功能，(Automatic LevelControl)，在测试电路中加入的稳定电平的电路，从而自动纠正偏移的电平回到用户所设定的电压讯号值。可选购外置AC电压准位补偿盒FX-LR0001，以确保输出讯号准位稳定如实反映被测组件特性。

支援内置DC偏置电压量测功能(选购OP-662102)

在电子电路设计中，电容组件是实现滤波、去耦、储能与稳压，然而，实际工作中的电容性能必须考虑到电容的压降效应(Capacitance Drop under DC Bias)，当对电容施加直流电压时，内部电场会抑制介电质的极化现象，尤其是对高介电常数(High-k)陶瓷材料而言，极化饱和更为明显，导致电容量急剧下降。此时，在电源模块、讯号去耦、DC-DC转换器及高速通讯系统中，若忽略电容于偏压下的变化，可能导致波效果变差、系统不稳或EMI表现恶化。可选购内置±12V DC偏置电压量测功能(OP-662102)，测试MLCC/电容组件的直流偏压效应，以确保有足够的电容量能满足系统所需储能与去耦需求。

此外，也提供外置DC偏压量测方案，可搭载外置DC偏压盒支持偏置电压±40V/200V/2000V。

可搭载DC偏置电流源量测电感磁饱和/温升特性

6621 LCR 测试仪可搭载DC 偏置电流源量测电感磁饱和电流特性，电流迭加******输出640A，频率响应100Hz-10MHz，验证与测试电感施加DC
偏流后的电感值变化。

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电源线
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	F423906A	凯尔文测试夹 (長100cm)
	FX-000C12	高频SMD测试治具
	FX-000C10	高频下压式SMD测试治具
	FX-000C11	高频镊子式测试夹
	AX-PM0004	材料测试治具
	F420003	外部DC偏压盒 (±40V/1MHz)
	F420005	外部DC偏压盒 (±40V/100mA)
	F420001	外部DC偏压盒 (±200V/1MHz)
	F423006	外部DC偏压盒 (±2000V/1MHz)
	F663001 A/B/C	BNC测试延长线 ((長50/100/200cm)