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功能亮点
匝间短路测试仪 7750
‒最小电感值≥0.2μH
‒电压补偿功能
‒高速脉冲取样率200MHz/9bits
‒崩溃电压测试
‒稳定极速测试:7次/秒
‒仪器内建可储存128组测试波形
‒USB Host快速存取测试画面
‒五种波形比对,检测绕线组件层间短路不良
型号 | 脉冲电压 可程式化 | 最小电感量 |
7750-1 | 10V-1200V 电压解析度 0.1V ******0.028焦耳 | ≥0.1μH |
7750-5 | 100V-5200V 电压解析度 1V ******0.5焦耳 | ≥10μH |
7750-10 | 200V-10000V 电压解析度 5V ******2焦耳 | ≥20μH |
脉冲电压精准度 | ±(1% of setting+5V) 7750-1 |
±(1% of setting+10V) 7750-5 | |
±(1% of setting+20V) 7750-10 | |
基本量测时 | 7次/秒 |
脉冲施加数 | ******32 |
波形采样率 | 200MHz/9 bit |
输入阻抗 | 20MΩ |
测试项目 | 总面积比对 面积差比对 二阶微分比对 电晕数比对 |
支援崩溃电压测试 | 支援此功能 |
Remote 信号 | Remote输出信号 PASS/FAIL/TEST/READ/HV ON Remote输入信号 START/STOP |
内建储存 | 128组 |
界面 | USB Host/Device、RS-232、Remote GPIB、LAN选配 |
电源需求 | 电压 98Vac-132Vac或192Vac-264Vac 频率 50/60Hz ±5% |
液晶屏幕 | 7吋TFT, 彩色显示 (800*480) |
操作环境 | 温度:0℃-40℃、湿度:20-80%RH |
外观尺寸(W*H*D) | 430x132x370 mm |
重量 | 7Kg |
7750层间短路测试仪检测技术
采用方式为『非破坏性、高速脉冲电压与阻尼振荡波形比对』
施加脉冲电压于绕组线圈的两端,在不破坏被测物的条件下,透过L/C谐振产生阻尼衰减振荡波形,进行标准品与被测物比对两者间的瞬间波形,在产品寿命性质量下提前检出层间短路、内部线圈或磁芯绝缘瑕疵的不良品。
仪器显示振荡之阻尼衰减波形进行比对分析,比对标准产品与被测波形各种差异
紫色为标准品之标准波形
蓝色为不良品已改变的波形
7750层间短路测试仪比对方式
首先须建立标准品之波形,再与产线生产的被测物进行比对
以下为不良品反应出这些电气特性已改变
线圈的电感量
品质因子Q值
线圈的圈数差 (电压差)
磁芯的材质差异性
线圈内部有匝间短路
7750层间短路测试仪检测技术
透过仪器内部电容Cs与外部待测物电感Lr并联下
仪器输出一组高速脉冲压于并联线路上
产生电感L/电容C谐振
7750支援4种波形比对模式
总面积差比对模式 AREA
于上图1-2范围内进行待测线圈波形面积比对,当待测物发生层间短路时,由于线圈能量损耗增加,谐振阻尼系数变大,谐振振幅会变小,总面积跟着变小,是检查层间短路最基本的参数。
以%表示,判定能量损耗的差异性
面积差比对模式 DIFF
将标准样品与待测产品两者波形点对点面积之相异处加总则称为「面积差」。
当待测物发生匝间短路时,电感变小(类似变压器次极圈短路时,初极圈电感会变小),造成后段波形振荡频率发生变化,谐振波形相位改变,面积差随之改变。
藉此比较电感值的差异性
电晕数比对模式 CORONA
绕组线圈于高压脉冲测试中,自身绝缘系统损坏而产生尖端放电,透过波形显示放电曲线中出现电晕的现象,此功能可统计电晕发生的次数根据其偏差程度进行判定。
可用于检测线圈内部绝缘质量是否有局部放电现象
二阶微分比对模式 LAPLACIAN
线圈绝缘质量不良在高压冲击下产生放电,引起振荡波形快速变化,透过7750 二阶微分演算方式进行比对。
可用于检测焊接不良降低绝缘性能的问题
7750功能介绍
电压补偿功能满足低感量产品测试
为了降低自动线检测时受过高的配线阻抗造成电压分压于测试在线,促使实际输出的电压低于设定的电压值,造成漏检不良品的质量疑虑,7750支持电压补偿功能,提升检测精度与降低误判的风险。
高速取样率进行波形比对分析
高达200MHz取样率,支持四种波形比对模式,施加脉冲数******可达32
提供实际输出电压检视功能
标准配件
电源线 |
2端点高压端子测试线夹 |
选购配件
RS-232连接线 |
远程控制线 |